Режимы работы:
в проходящем и отраженном свете.
Назначение:
Проведение автоматизированных панорамных исследований структуры материалов с использованием многомасштабных (multi-scale) методов микроскопии. Технологической основой метода является автоматический способ получения панорамных изображений структуры материалов на макроскопической площади с микронной детализацией. Особенности: панорамное изображение структуры материала многократно превышает поле зрения микроскопа и включает неограниченное количество смежных полей зрения без видимых переходов на границах смежных полей зрения. Панорамное изображение позволяет проводить многомасштабные материаловедческие исследования путем определения связей структура-свойства-технология одновременно на масштабных уровнях макро- и микроструктуры, а также прямыми количественными измерениями микро- и макроструктурных характеристик (размеры, морфология, площади, плотность распределения структурных элементов на нескольких уровнях организации структуры) с перспективой апскейла (upscale англ.) и даунскейла (downscale англ.) свойств.
Для обеспечения производительности и быстродействия программные и аппаратные средства станции сканирования на базе Анализатора фрагментов микроструктуры твердых тел поддерживают технологию быстрой визуализации и количественного анализа больших панорамных изображений от 1Гб и более в веб-браузере с использованием пирамиды разрешений.
Использование веб-браузера для быстрой визуализации и количественного анализа панорамных изображений на удаленных рабочих местах обеспечивает многопользовательский режим без установки дополнительного программного обеспечения на удаленных рабочих местах. Формат панорамных изображений обеспечивает передачу в веб-браузер панорамного изображения с интерактивными масками выделенных объектов, маркерами, текстовыми комментариями пользователей, интерактивными инструментами для навигации и поиска объектов на панорамном изображении.
Программные и аппаратные средства станции сканирования на базе Анализатора фрагментов микроструктуры твердых тел поддерживают технологию автоматического 3D сканирования поверхности образца для получения панорамных 3D-изображений поверхности с наложением текстуры и возможностью измерения высоты объектов и шероховатости поверхности (Ra,Rz,Rmax) вдоль выбранного профиля.
Станция сканирования на базе Анализатора фрагментов микроструктуры твердых тел обеспечивает:
— автоматическую съемку карты всей поверхности образца;
— автоматическую съемку полей произвольной площади и количества с координатной привязкой к карте образца;
— создание сценариев автоматической съемки (последовательность, количество и размер полей на образце, направление съемки, фигура участка сканирования), получение 3D-изображений поверхности образца с наложением текстуры и возможностью измерения высоты объектов и шероховатости поверхности;
— автокоррекцию неравномерности освещенности и автофокусировку на сложных криволинейных поверхностях более, чем по 3-м точкам;— экспресс-оценку контрастного фазового состава структуры в реальном времени при непрерывном движении образца в процессе съемки.
Основные контролируемые параметры и характеристики:
— диапазон измерения длины от 2000 до 0,5 мкм;
— абсолютное значение среднеквадратического отклонения измерения длины не более 1 мкм во всём диапазоне измерений;
— основная относительная погрешность измерения длины не более 0,75 % во всем диапазоне измерений;
— предел допускаемого относительного среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности, 0,2% (при увеличении до х500 включительно), 0,4% (при увеличении свыше х500);
— пределы допускаемой относительной погрешности: ±0,25% (при увеличении до х500 включительно), ±0,65% (при увеличении свыше х500).
Мельница Emax — это представитель совершенно нового поколения шаровых мельниц для сверхбыстрого и сверхтонкого измельчения.
Преимущества и характеристики:
- более тонкое и быстрое измельчение, чем в любой другой шаровой мельнице
- скорость до 2 000 об/мин для сверхбыстрого измельчения образцов
- встроенная жидкостная система охлаждения для измельчения без перегрева материала и остановок на охлаждение размольной гарнитуры
- встроенная система измерения и контроля температуры размольного стакана для измельчения при заданной температуре
- узкое распределение частиц по размерам благодаря особому дизайну размольных стаканов, улучшающему перемешивание образца
- запатентованный привод
- управление с помощью сенсорного дисплея, сохранение до 10 программ измельчения в памяти прибора
- одновременное измельчение в двух размольных стаканах
- легкая установка размольных стаканов
- размольные стаканы со встроенными зажимными устройствами
- возможность выбора материалов размольной гарнитуры для измельчения без загрязнения